Рентгеновские дифрактометры

D8 FABLINE

D8 FABLINE

Цена: По запросу
Описание

Дифрактометр D8 FABLINE специально разработан для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, D8 FABLINE позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности.

  • Исследование пластин размером от 6“ до 300 мм
  • Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца
  • Интерфейс SECS/GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом
  • Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов
  • D8 FABLINE может быть оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин
  • Сенсорный экран делает работу с системой более удобной